.我公司提供萤光X线膜厚仪,电解式膜厚计等膜厚测量仪,能高精度测量金属镀层,铜箔,涂层等
产品展示
莹光X线膜厚仪
可测量原子序号22(Ti) 到82(Pb)的金属膜厚.可同时测量2层,3层的膜厚.也可以同时测量合金的膜厚和组成比.
电解式膜厚仪
使用不同的电解液可测量不同金属(金,银,铅,无电解镍,铁,锌,镉,锡,铜,锡-锌合金,锡铅合金,,铟,铬,镍 )等膜厚.
数显式涡电流膜厚仪
非磁性金属(铝,铜,黄铜)上的非导电膜厚,铁上的各种镀层,非金属上的铜,银镀层和底材与镀层的导电率的差比较大的组合都可测量.
电阻式膜厚仪
可测量绝缘材料上的金属膜厚(印刷电路,镀层),两面印刷电路与多层电路板都可测量.可选两种测量量程,可测量2-200μm金属镀层
β-ray后方散射式膜厚仪
可测量金,银,锡铅合金,铜.镍,铹,锡镍合金,光致抗腐剂,铬等,底材和镀层的原子序号的差大于5的组合.
