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β-ray回散式膜厚仪 BTC-221
 
β-ray回散式膜厚仪 BTC-221  
 
 

β-ray回散式膜厚仪 BTC-221 产品参数
 
  1. 電腦機能使功能性與操作性大幅提昇
  2. 更換不同線源，由薄至厚的膜層，可以高精度測得
  3. 小面積部品，可換遮蔽口，並且有多種遮蔽口可供選擇
  4. 簡單的操作程序， 2 ~ 9點多點校正法可建立較特殊的校正曲線
  5. 擁有計數量補正，GM管無需預熱，即可高精度的測定
  6. 記憶檢量線有40組
  7. 可將校正曲線做單點底材補正
  8. 所記憶的校正曲線可複製到別的頻道
  9. 可設定有效測定值的上下限值
  10. 合金層可以測量膜厚值和組成比
  11. 直徑80mm以上之管形內壁可以測量
  12. 錯誤測定所得之值，可隨意地刪除
  13. 可任意設定 1~999sec 測量時間
  14. 單位µm、MI、mil、%組成、計數量%，可任意變更，測定值亦隨之而變
 
 

β-ray回散式膜厚仪 BTC-221特别附属品
 
Probe guide Probe system Probe system Probe guide RE-5　180°（比例尺付）
Probe guide
MS-11
Probe system
H-5
Probe system
H-5
Probe guide RE-5　
180°（比例尺付）