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会社の歴史・沿革

膜厚測定の歴史は電測の歴史といっても過言ではありません。業界に先駆けて電解式膜厚計を開発したことにより、日本の表面処理業界に貢献してまいりました。これからも業界を牽引しお客様の製品品質向上と発展を支えていきます。

昭和27年 資本金2,000,000円にて代表取締役貝原 巌が昭和計器工業株式会社を創立、英国エルコメータ社の日本代理店となる
昭和30年 米国コクール社と販売提携極東地区総代理店となる
昭和32年 米国U・P・A社と販売提携日本代理店となる
昭和41年 米国コクール社と技術提携しコクール電子化学式鍍金膜厚計の国内組立を開始
昭和44年 非破壊式膜厚計ダーメスD-7を開発、製造販売を開始。同時に諸外国へも輸出開始
昭和45年 電測工業株式会社に社名変更し、貝原 巌が代表取締役となり、資本金5,000,000円に増資
昭和47年 新製品デジタル電子化学式鍍金膜厚計G-7を開発・販売を開始
昭和49年 放射線式膜厚計ベータテクノスターを開発・販売を開始
昭和52年 渦電流式非破壊膜厚計ダーメスD-10を開発・販売を開始
放射線式膜厚計ベータテクノスターBT-3を開発・販売を開始
昭和53年 1月 渦電流式非破壊膜厚計ダーメスD-10Bを開発・販売を開始
5月 放射線式膜厚計ベータテクノスターBT-4を開発・販売を開始
昭和56年 12月 放射線式膜厚計ベータテクノスターBT-5開発・販売を開始
昭和57年 3月 電解式膜厚計EF-1000を開発・販売を開始
6月 渦電流式非破壊膜厚計ダーメスDS-1、DS-1Pを開発・販売を開始
昭和58年 5月 電解式膜厚計G-7、GP-8を開発・販売を開始
6月 スーパーニッケルSN-7を開発・販売を開始
昭和59年 6月 蛍光X線式膜厚計EX-8080を開発・発表・試作品展示
12月 蛍光X線式膜厚計EX-8000を開発・販売を開始
昭和61年 5月 放射線式膜厚計(コンピュータ式)BTC-55を開発・販売を開始
昭和62年 6月 渦電流式非破壊膜厚計(コンピュータ式)DX-100を開発・販売を開始
平成元年 3月 蛍光X線式膜厚計EX-9000を開発・販売を開始
7月 電解式膜厚計(コンピュータ式)GC-01を開発・販売を開始
8月 電磁式(コンピュータ式)MaG-Aを開発・販売を開始
平成2年 4月 資本金20,000,000円に増資
平成4年 1月 株式会社電測に社名変更
平成6年 2月 電解式膜厚計CT-1を開発、販売を開始
平成7年 4月 電解式膜厚計CT-2を開発、販売を開始
平成9年 9月 蛍光X線式膜厚計EX-2000を開発、販売を開始
平成12年 6月 蛍光X線式膜厚計EX-3000を開発、販売を開始
平成13年 4月 渦電流式膜厚計D-20を開発、販売を開始
9月 蛍光X線式膜厚計COSMOS-1Xを開発、販売を開始
平成14年 8月 渦電流式膜厚計DMC-211を開発、販売を開始
平成15年 2月 ベータ線式膜厚計BTC-211を開発、販売を開始
12月 電気抵抗式膜厚計RST-231を開発、販売を開始
平成16年 11月 電解式膜厚計GCT-311を開発、販売を開始
平成18年

5月 COSMOS-2Xを開発、販売を開始

8月 電解式膜厚計 CT-3を開発、販売を開始

8月 渦電流式膜厚計 DS-110を開発、販売を開始

平成20年 9月 電解式膜厚計 CT-4を開発、販売を開始
平成21年 2月 ISO9001認証取得
平成25年 10月 EX-731を開発、販売を開始
平成27年 11月 蛍光X線式膜厚計COSMOS-3Xを開発、販売を開始

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