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渦電流式膜厚計 DS-110

渦電流式膜厚計 DS-110

水晶発振により高精度
短い測定時間で曲面・球面対での測定も可能

・測定値表示がデジタル式で読み取りやすい
・スイッチを入れると同時に測定開始、測定時間も1秒以内
・水晶発振方式により、高安定(±1%)高精度
・非破壊だから全数検査が可能
・直読式だから換算不要

デジタルカタログで見る

渦電流式膜厚計 DS-110 の特長

読み取りやすいデジタル式

測定値表示がデジタル式で読み取りやすいです。

すぐに測定が可能

スイッチを入れると同時に測定が可能。測定時間も1秒以内です。

高安定(±1%)高精度

水晶発振方式により、高安定(±1%)高精度。

全数検査が可能

非破壊ですので全数検査ができます。

換算の必要なし

直読式で換算の必要がありません。

多様な測定に対応

金属上の皮膜、めっき、塗装、樹脂等の測定ができます。(例:アルミ上の酸化膜、鉄上の亜鉛等のめっき、塗装)

1000データまで保存可能

1本の検査線で1000データが保存可能です。

非金属上の金属皮膜も測定

非金属上の金属皮膜(例 プラスチック上のめっき)の測定ができます。

標準で4種類、最大70種類の膜厚測定が可能

スイッチを切り替えることで、4種類までの膜厚測定ができます。また、メーカで検査線を入れ替えることで、70種類以上の膜厚測定ができます。

曲面、球面体、パイプの内部でも測定可能

曲面、球面体でも測定可能です。また、パイプ等内面も測定できます(φ12.7mm以上)。

プリントアウト機能

測定データと統計処理値をプリントアウトできます。

測定原理

測定原理   高周波電流を流したプローブ(測定子コイル)を金属に接近させると、金属表層部に渦電流が生じます。この渦電流は、高周波磁界の強さ、周波数、その金属の導電性、厚さ、形状等により影響を受け、浸透深さ及びその大きさが異なります。
そして渦電流は、プローブの高周波磁界を打ち消すように流れますので、プローブの高周波抵抗値が変化します。この高周波抵抗値の変化分を増幅し、カーブ補正を行って、デジタル値で表示します。このため膜厚値を直接数字で読み取ることができます。カーブ補正はマイクロコンピュータによる計算で行っています。このため高精度で、高安定です。

渦電流式膜厚計 DS-110 の仕様

電源 ACアダプタ使用にてAC100V~240V
重量 3.4kg
寸法 330(W)×90(D)×180(H)mm

(注)仕様は予告なく変更されることがあります。

渦電流式膜厚計 DS-110 のプローブ仕様

1.プローブの効果範囲
 極細プローブ使用時
φ5mm
φ3mm
2.プローブのコードの長さ 900mm
3.ガイドの種類により曲面上の測定可能
4.プローブの種類 MP型 …平凸凹曲面用(標準)
SM型 …平凸凹曲面用(極細)
RP型 …凹曲面、パイプ内面用
SR型 …小径パイプ内面用
上記プローブには測定する膜厚により各々A、B、C、Dの4種類があります。
5.プローブガイド #180:平面測定用
#120:φ25~60mm凸曲面測定用
#90 :φ30mm以下の凸曲面測定用
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