沿革

膜厚測定の歴史は電測の歴史といっても過言ではありません。業界に先駆けて電解式膜厚計を開発したことにより、
日本の表面処理業界に貢献してまいりました。これからも業界を牽引しお客様の製品品質向上と発展を支えていきます。

1952年 資本金2,000,000円にて代表取締役貝原 巌が昭和計器工業株式会社を創立、英国エルコメータ社の日本代理店となる
1955年 米国コクール社と販売提携極東地区総代理店となる
1957年 米国U・P・A社と販売提携日本代理店となる
1966年 米国コクール社と技術提携しコクール電子化学式鍍金膜厚計の国内組立を開始
1969年 非破壊式膜厚計ダーメスD-7を開発、製造販売を開始。同時に諸外国へも輸出開始
1970年 電測工業株式会社に社名変更し、貝原 巌が代表取締役となり、資本金5,000,000円に増資
1972年 新製品デジタル電子化学式鍍金膜厚計G-7を開発・販売を開始
1974年 放射線式膜厚計ベータテクノスターを開発・販売を開始
1977年 渦電流式非破壊膜厚計ダーメスD-10を開発・販売を開始
放射線式膜厚計ベータテクノスターBT-3を開発・販売を開始
1978年 1月 渦電流式非破壊膜厚計ダーメスD-10Bを開発・販売を開始
5月 放射線式膜厚計ベータテクノスターBT-4を開発・販売を開始
1981年 12月 放射線式膜厚計ベータテクノスターBT-5開発・販売を開始
1982年 3月 電解式膜厚計EF-1000を開発・販売を開始
6月 渦電流式非破壊膜厚計ダーメスDS-1、DS-1Pを開発・販売を開始
1983年 5月 電解式膜厚計G-7、GP-8を開発・販売を開始
6月 スーパーニッケルSN-7を開発・販売を開始
1984年 6月 蛍光X線式膜厚計EX-8080を開発・発表・試作品展示
12月 蛍光X線式膜厚計EX-8000を開発・販売を開始
1986年 5月 放射線式膜厚計(コンピュータ式)BTC-55を開発・販売を開始
1987年 6月 渦電流式非破壊膜厚計(コンピュータ式)DX-100を開発・販売を開始
1989年 3月 蛍光X線式膜厚計EX-9000を開発・販売を開始
7月 電解式膜厚計(コンピュータ式)GC-01を開発・販売を開始
8月 電磁式(コンピュータ式)MaG-Aを開発・販売を開始
1990年 4月 資本金20,000,000円に増資
1992年 1月 株式会社電測に社名変更
1994年 2月 電解式膜厚計CT-1を開発、販売を開始
1995年 4月 電解式膜厚計CT-2を開発、販売を開始
1997年 9月 蛍光X線式膜厚計EX-2000を開発、販売を開始
2000年 6月 蛍光X線式膜厚計EX-3000を開発、販売を開始
2001年 4月 渦電流式膜厚計D-20を開発、販売を開始
9月 蛍光X線式膜厚計COSMOS-1Xを開発、販売を開始
2002年 8月 渦電流式膜厚計DMC-211を開発、販売を開始
2003年 2月 ベータ線式膜厚計BTC-211を開発、販売を開始
12月 電気抵抗式膜厚計RST-231を開発、販売を開始
2004年 11月 電解式膜厚計GCT-311を開発、販売を開始
2006年 5月 COSMOS-2Xを開発、販売を開始
8月 電解式膜厚計 CT-3を開発、販売を開始
8月 渦電流式膜厚計 DS-110を開発、販売を開始
2008年 9月 電解式膜厚計 CT-4を開発、販売を開始
2009年 2月 ISO9001認証取得
2013年 10月 EX-731を開発、販売を開始
2015年 11月 蛍光X線式膜厚計COSMOS-3Xを開発、販売を開始

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